Surface and Interface Analysis ist ein internationales Journal, das sich der Entwicklung und Anwendung von Techniken zur Charakterisierung von Oberflächen, Grenzflächen und dünnen Schichten widmet. Es dient als Forum für Forscher, um Fortschritte in diesem Bereich auszutauschen.
Das Journal deckt ein breites Spektrum an Techniken ab, darunter Elektronenspektroskopie, Ionenstreuung, Sekundärionenmassenspektrometrie, Rasterkraftmikroskopie und oberflächenverstärkte Raman-Streuung. Es veröffentlicht Originalarbeiten, Übersichten und kurze Mitteilungen. Qualitativ hochwertige Inhalte, um Physiker, Chemiker, Materialwissenschaftler und Ingenieure zu erreichen. Indexiert in bekannten wissenschaftlichen Datenbanken.
Mit dem Fokus auf Innovation und praktischen Anwendungen trägt Surface and Interface Analysis dazu bei, die Zukunft der Oberflächenwissenschaft und ihre Auswirkungen auf die Materialwissenschaft, Nanotechnologie und andere Bereiche zu gestalten. Das Journal fördert die Entwicklung haltbarer, effizienterer und funktioneller Materialien.