Die Leistungsfähigkeit der EXAFS-Analyse für die Materialwissenschaften freisetzen: Dieses Papier stellt erweiterte Funktionen von FEFF und FEFFIT vor, leistungsstarke Werkzeuge zur Analyse von EXAFS-Daten (Extended X-ray Absorption Fine Structure). Durch die Verwendung des Streupfadformalismus von FEFF und der Kumulantenentwicklung bietet die Forschung einen flexiblen und robusten Ansatz zur Parametrisierung von EXAFS-Problemen. Die Forschung betont die Fähigkeit, EXAFS-Daten in Form von verallgemeinerten physikalischen Variablen zu modellieren, was ein tieferes Verständnis der Materialeigenschaften ermöglicht. Ein praktisches Beispiel demonstriert die gleichzeitige Verfeinerung von zwei verschiedenen Polarisationen für Co K EXAFS-Daten von \rm CoPt_{3} und zeigt die Fähigkeiten der Werkzeuge und die physikalischen Erkenntnisse, die sie liefern. Diese Methodik ermöglicht es Forschern, Materialstrukturen, elektronische Zustände und lokale atomare Umgebungen mit beispielloser Genauigkeit zu erforschen. Durch die Verwendung dieser verfeinerten Analysetechniken können Wissenschaftler tiefere Einblicke in die funktionalen Eigenschaften von Materialien gewinnen, was zu Innovationen in der Materialwissenschaft und -technik führt.
Dieser Artikel im Journal of Synchrotron Radiation passt genau in den Fokus des Journals auf Fortschritte in der Synchrotronwissenschaft. Durch die detaillierte Beschreibung von Verbesserungen der EXAFS-Analyse mit FEFF und FEFFIT bietet der Artikel wertvolle Werkzeuge und Methoden für Forscher, die Synchrotrontechniken verwenden. Die Arbeit trägt wesentlich zur laufenden Berichterstattung des Journals über hochmoderne Entwicklungen in der Strukturcharakterisierung und Materialwissenschaft bei, die von seiner Leserschaft sehr geschätzt wird.