Metrology and Measurement Systems ist ein Peer-Review-Journal, das sich auf Fortschritte in den Bereichen Metrologie, Messtechniken und Instrumentierung konzentriert. Das Journal veröffentlicht Originalarbeiten, Übersichten und technische Notizen zu sowohl theoretischen als auch praktischen Aspekten der Messwissenschaft. Ziel ist es, eine Plattform für den Austausch von Wissen und Innovation in der Metrologie zu bieten.
Zu den wichtigsten abgedeckten Bereichen gehören Länge, Masse, Zeit, Temperatur, elektrische Größen und chemische Messungen. Das Journal hebt neuartige Messmethoden, Sensortechnologien und Instrumentierungssysteme für verschiedene Anwendungen hervor. Besonderes Augenmerk wird auch auf Unsicherheitsanalyse, Kalibrierung und Rückführbarkeit in Messprozessen gelegt. Das Journal diskutiert Standards und internationale Zusammenarbeit in der Metrologie.
Metrology and Measurement Systems richtet sich an Forschende, Ingenieure und Praktiker aus Industrie und Wissenschaft, die an der Entwicklung und Anwendung von Messtechniken beteiligt sind. Das Journal trägt dazu bei, die Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Vergleichbarkeit von Messungen weltweit zu verbessern. Es ist in Datenbanken wie Scopus, Web of Science und Inspec indiziert.