IFEFFIT : interactive XAFS analysis and FEFF fitting

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Abstrakt
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Newville, Matthew. “IFEFFIT : Interactive XAFS Analysis and FEFF Fitting”. Journal of Synchrotron Radiation, vol. 8, no. 2, 2001, pp. 322-4, https://doi.org/10.1107/s0909049500016964.
Newville, M. (2001). IFEFFIT : interactive XAFS analysis and FEFF fitting. Journal of Synchrotron Radiation, 8(2), 322-324. https://doi.org/10.1107/s0909049500016964
Newville M. IFEFFIT : interactive XAFS analysis and FEFF fitting. Journal of Synchrotron Radiation. 2001;8(2):322-4.
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Beschreibung

Suchen Sie nach einem interaktiven und vielseitigen Werkzeug für die XAFS-Analyse? Diese Arbeit stellt IFEFFIT vor, ein Programm und eine Bibliothek, die AUTOBK- und FEFFIT-Algorithmen mit interaktiven Grafiken und Datenmanipulationsfunktionen für die XAFS-Analyse kombiniert. IFEFFIT ist skriptfähig und wird mit einem Befehlszeilenprogramm geliefert, das sowohl im interaktiven als auch im Batch-Modus verwendet werden kann. Darüber hinaus bietet es eine Funktionsbibliothek, auf die von C, Fortran, Tcl, Perl und Python aus zugegriffen werden kann, was die Erstellung von grafischen Benutzeroberflächen für die schnelle Datenanalyse erleichtert. Unter Verwendung dieser Bibliothek wird eine grafische Benutzeroberfläche für die schnelle 'Online'-Datenanalyse demonstriert. IFEFFIT ist Open Source und fördert die breite Nutzung, die kollaborative Entwicklung und Beiträge. Mit seinen interaktiven Funktionen und seiner flexiblen Skripterstellung ist IFEFFIT eine wertvolle Ressource für Forscher.

Diese im Journal of Synchrotron Radiation veröffentlichte Arbeit geht direkt auf den Fokus der Zeitschrift auf Fortschritte bei Synchrotronstrahltechniken und deren Anwendungen ein. Durch die Einführung von IFEFFIT, einem neuen Softwarepaket für die XAFS-Datenanalyse, bietet die Arbeit ein wertvolles Werkzeug für die Synchrotronstrahlengemeinschaft. Die Open-Source-Natur von IFEFFIT steht auch im Einklang mit dem Ziel der Zeitschrift, die Zusammenarbeit und Innovation in diesem Bereich zu fördern.

Zitate
Zitationsanalyse
Die erste Studie, die diesen Artikel zitiert hat, trug den Titel Surface Morphology and Structural Investigation of TiN Nanocrystal Thin Films Grown with Different N<sub>2</sub> Concentration und wurde in 2013. veröffentlicht. Die aktuellste Zitierung stammt aus einer 2023 Studie mit dem Titel Surface Morphology and Structural Investigation of TiN Nanocrystal Thin Films Grown with Different N<sub>2</sub> Concentration Seinen Höhepunkt an Zitierungen erreichte dieser Artikel in 2021 mit 9 Zitierungen.Es wurde in 21 verschiedenen Zeitschriften zitiert., 9% davon sind Open Access. Unter den verwandten Fachzeitschriften wurde diese Forschung am häufigsten von The Journal of Physical Chemistry C zitiert, mit 12 Zitierungen. Die folgende Grafik veranschaulicht die jährlichen Zitationstrends für diesen Artikel.
Zitate verwendeten diesen Artikel für Jahr