Ultrathin Multiply Connected Rhenium Films

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Abstrakt
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Lewis, R. T. “Ultrathin Multiply Connected Rhenium Films”. Journal of Vacuum Science and Technology, vol. 10, no. 5, 1973, pp. 717-22, https://doi.org/10.1116/1.1318420.
Lewis, R. T. (1973). Ultrathin Multiply Connected Rhenium Films. Journal of Vacuum Science and Technology, 10(5), 717-722. https://doi.org/10.1116/1.1318420
Lewis RT. Ultrathin Multiply Connected Rhenium Films. Journal of Vacuum Science and Technology. 1973;10(5):717-22.
Beschreibung

Wie verhalten sich Metalle im Nanobereich, wenn sie in ungewöhnliche Formen gezwungen werden? Diese Studie untersucht die Eigenschaften mehrfach verbundener ultradünner Rheniumfilme, die auf porösem Aluminiumoxid und Siliziumdioxid gebildet werden. Die Forschung verwendet AC-Suszeptibilitätsmessungen, um den supraleitenden Übergang zu untersuchen und die Beziehung zwischen der Filmstruktur und ihrem elektronischen Verhalten zu verstehen. Das Verfahren beinhaltet das Abscheiden eines 2 nm Rheniumfilms auf Substraten mit hoher Oberfläche mit chemischen Mitteln. Anschließend wurden AC-Suszeptibilitätsmessungen in statischen Magnetfeldern unterhalb des supraleitenden Übergangs durchgeführt. Die Daten wurden mit einem Modell hohler, dünnwandiger Zylinder analysiert, um die Geometrie des Films mit seinen magnetischen Eigenschaften in Beziehung zu setzen. Die Studie stellt fest, dass die Suszeptibilität des Films mit dem AC-Messfeld schneller abnimmt als mit dem zunehmenden statischen Feld. Durch die Korrelation der Suszeptibilitätsdaten mit unabhängigen Schätzungen der Filmdicke (aus der Röntgenbeugung) und der Verbundenheit (aus Schleifexperimenten) validieren die Forschenden ihr Modell. Diese Arbeit bietet Einblicke in die grundlegende Physik nanoskaliger Materialien und könnte Anwendungen in der Mikroelektronik und bei Sensoren haben.

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