Können wir die Röntgenanalyse für eine präzisere Materialcharakterisierung verfeinern? Diese Arbeit stellt einen neuartigen Faltungsansatz für die Röntgenpulverliniendiagrammanpassung vor, der Linienformen aus dem Cu Kα-Emissionsprofil, den Diffraktometerabmessungen und den physikalischen Variablen der Probe synthetisiert. Diese Methode ermöglicht die Anpassung von Parametern wie Empfangsspaltbreite, -länge, Röngtenquellengröße, Einfallswinkeldivergenz, Röntgenabsorptionskoeffizient der Probe und Kristallitgröße. Dieser selbstkonsistente Ansatz verwendet üblicherweise bekannte instrumentelle Parameter, die durch gleichzeitiges Anpassen von Profilen bei hohen und niedrigen 2θ-Werten verfeinert werden, um die Korrelation zu minimieren. Das Cu Kα-Emissionsprofil, basierend auf aktuellen Messungen, identifiziert eine Dublettstruktur sowohl in Kα1- als auch in Kα2-Komponenten. Die Forscher entwickelten schnelle und genaue Faltungsverfahren und verwenden multilineare Regression und Gauss–Newton-nichtlineare kleinste Quadrate mit numerischen Differentialen zur Anpassung der Profile. Die Methode wird unter Verwendung von Pulverbeugungsdaten von gut kristallisierten MgO- und Y3Al5O12 (YAG)-Proben und instrumentellen Parameteränderungen bewertet. Dieser Ansatz verbessert die Genauigkeit der Röntgenanalyse und erweist sich als nützlich in der **Kristallographie**forschung, **Material**wissenschaft und Qualitätskontrolle, wo eine präzise **Röntgenliniendiagrammanpassung** entscheidend ist.
Diese Arbeit, die im Journal of Applied Crystallography erscheint, das Artikel mit Schwerpunkt auf der Technik der Kristallographie und ihren Anwendungen veröffentlicht, passt genau in den Rahmen der Zeitschrift. Durch die Präsentation eines neuartigen Ansatzes zur Röntgenlinienprofilanpassung bietet die Forschung wertvolle Einblicke und Werkzeuge für Kristallographen und Materialwissenschaftler. Der Artikel ist für das Publikum der Zeitschrift hochrelevant und bedeutend.