A balanced quantum Hall resistor

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Abstrakt
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Fijalkowski, Kajetan M., et al. “A Balanced Quantum Hall Resistor”. Nature Electronics, 2024, https://doi.org/10.1038/s41928-024-01156-6.
Fijalkowski, K. M., Liu, N., Klement, M., Schreyeck, S., Brunner, K., Gould, C., & Molenkamp, L. W. (2024). A balanced quantum Hall resistor. Nature Electronics. https://doi.org/10.1038/s41928-024-01156-6
Fijalkowski KM, Liu N, Klement M, Schreyeck S, Brunner K, Gould C, et al. A balanced quantum Hall resistor. Nature Electronics. 2024;.
Journalkategorien
Technology
Electrical engineering
Electronics
Nuclear engineering
Electric apparatus and materials
Electric circuits
Electric networks
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Beschreibung

Könnte ein neues Widerstandsdesign die Quantenmetrologie verbessern? Diese Arbeit untersucht ein Messschema, das entwickelt wurde, um die Robustheit eines Quanten-Anomalen-Hall-Widerstands mit Nullmagnetfeld zu verbessern und seinen Betriebsbereich auf höhere Ströme auszudehnen. Das Schema injiziert gleichzeitig Strom in zwei getrennte Perimeter eines Multi-Terminal-Corbino-Geräts, basierend auf V0.1(Bi0.2Sb0.8)1.9Te3, um das elektrochemische Potenzial zwischen den Kanten auszugleichen. Dieser Ansatz schirmt das elektrische Feld ab, das die Rückstreuung antreibt, und verbessert die Quantisierungsstabilität bei erhöhten Strömen. Dieses Multi-Terminal-Corbino-Gerät basiert auf V0.1(Bi0.2Sb0.8)1.9Te3. Dieser innovative Ansatz könnte auf bestehende Quantenwiderstandsstandards angewendet werden, die auf dem ganzzahligen Quanten-Hall-Effekt basieren, wodurch die Zuverlässigkeit und Anwendbarkeit der Quantenwiderstandsmetrologie in verschiedenen Umgebungen verbessert wird. Es ermöglicht robustere und präzisere Quantenwiderstandsmessungen und fördert den Bereich der Metrologie.

Diese in Nature Electronics veröffentlichte Forschung steht im Einklang mit dem Fokus der Zeitschrift auf elektronische Geräte und Quantentechnologie. Die Entwicklung eines ausgewogenen Quanten-Hall-Widerstands trägt zur Berichterstattung der Zeitschrift über Fortschritte in der elektronischen Metrologie bei.

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